高性能
在同級(jí)產(chǎn)品中，Park XE7能夠帶來(lái)高納米級(jí)分辨率的測(cè)量效果。得益于獨(dú)特的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨(dú)立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測(cè)量，從而精準(zhǔn)成像和測(cè)量樣品的特征。此外，Park的True
Non-Contact?模式還能為您帶來(lái)很好的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會(huì)受影響。
滿足當(dāng)前和未來(lái)需求
在Park
XE7的幫助下，現(xiàn)在與未來(lái)皆在您的掌控中。Park XE7帶有業(yè)內(nèi)很全的測(cè)量模式。這些模式不僅能滿足您目前的需求，也考慮到未來(lái)不斷變化的需求。再者，XE7具有市場(chǎng)上開放性的設(shè)計(jì)，允許您整合其他附件和儀器，從而滿足您特殊的研究需求。
易于使用和高生產(chǎn)率
Park XE7擁有簡(jiǎn)潔的圖形用戶界面和自動(dòng)化工具，即便是初學(xué)者也可以快速地完成對(duì)樣品的掃描。無(wú)論是預(yù)準(zhǔn)直探針、簡(jiǎn)單的樣品和探針更換、輕松的激光準(zhǔn)直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7能夠全力推動(dòng)研究效率的提高。
經(jīng)濟(jì)實(shí)惠超越了系統(tǒng)成本
Park XE7中所搭載的True
Non-Contact?模式讓用戶無(wú)需頻繁更換昂貴的探針尖.端，并且它配有業(yè)內(nèi)很多的掃描模式，兼容性優(yōu)良，讓您可隨時(shí)升級(jí)系統(tǒng)功能，從而延長(zhǎng)產(chǎn)品的使用壽命。Park XE7配有Park
Systems的所有的技術(shù)，XE7在細(xì)節(jié)的設(shè)計(jì)上也相當(dāng)用心。
技術(shù)參數(shù)
XY掃描器
閉環(huán)控制式單模塊柔性XY掃描器。
掃描范圍: 50 μm × 50 μm (可選
100 μm×100 μm, 10 μm×10 μm )
Z掃描器
柔性引導(dǎo)高力度掃描器
掃描范圍: 12 μm (可選 25
μm)
樣品臺(tái)
XY臺(tái)工作范圍:
13 × 13 mm
Z臺(tái)工作范圍:
29.5 mm
聚焦臺(tái)工作范圍: 70 mm
光學(xué)系統(tǒng)
可觀察樣品和探針的直視同軸光學(xué)系統(tǒng)
10X 物鏡 (可選20X）
視場(chǎng): 480 × 360 μm
CCD: 1M像素（像素分辨率: 0.4 μm）
電路系統(tǒng)
高性能DSP
: 600 MHz with 4800 MIPS
*大圖像尺寸:
4096 x 4096像素, 16個(gè)數(shù)據(jù)圖像
信號(hào)輸入：在500kHz取樣時(shí),
16位ADC的20個(gè)通道
信號(hào)輸出：在500kHz取樣時(shí),
16位ADC的21個(gè)通道
同步信號(hào)：圖像結(jié)束, 線結(jié)束及像素結(jié)束TTL信號(hào)
主動(dòng)Q控制(選配)
懸臂梁彈性常數(shù)校準(zhǔn)(選配)
CE Compliant
電源 :
120 W
信號(hào)處理模塊 (選配)