高溫納米壓痕測(cè)試儀
如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話(huà),可以
產(chǎn)品名稱(chēng): 高溫納米壓痕測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào): HT-UNHT
產(chǎn)品展商: 奧地利安東帕Anton Paar
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
高溫納米壓痕測(cè)試儀HT-UNHT是一個(gè)低載荷的納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，可用于測(cè)量在高達(dá) 700 ℃ 溫度下薄膜和涂層的硬度和彈性模量。
高溫納米壓痕測(cè)試儀
的詳細(xì)介紹
UNHT 主動(dòng)式表面參比技術(shù)與獨(dú)有的加熱技術(shù)相結(jié)合，可在任何溫度條件下提供高穩(wěn)定性解決方案。
目前提供 3 種解決方案：
- 高達(dá) 200 ℃（帶有液體冷卻）
- 高達(dá) 450 °C（帶有液體冷卻）
- 高達(dá) 700 ℃（真空）
力： 100 mN
深度：100 um
溫度： 700 °C