日期和時間：

2018年3月29日 周四

上午9:30-10:30

報名網(wǎng)址：

http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_3457.html 
 

參與我們的的網(wǎng)絡(luò)研討會，助您了解納米科學(xué)研究領(lǐng)域的*前沿應(yīng)用:

原子力顯微鏡納米級模量表征新技術(shù)及應(yīng)用

park systems的應(yīng)用科學(xué)家石雯晴博士將為大家介紹用park的pinpoint力模式進行afm納米模量表征，石博士將為大家探究懸臂剛度和其施加的力對測量模量的影響。

pinpoint力模式可獲取關(guān)于納米力學(xué)表征的*清晰分辨率和精度，并實時同步獲得剛度，彈性模量以及粘附力。當(dāng)xy掃描器停止工作時，高速的力-距離曲線可在針尖和樣品的接觸時間里被良好控制。根據(jù)可控制的數(shù)據(jù)采集時間， pinpoint?納米力模式可在多種樣品表面以高信噪比優(yōu)化納米力測量。

石雯晴博士作為park systems的應(yīng)用科學(xué)家，將為大家介紹pinpoint納米力模式，為大家展示使用各種剛度值懸臂探針的效果，并展示從實際樣品中獲取的納米力學(xué)表征數(shù)據(jù)。

pinpoint納米力模式是基于原子力顯微鏡的一項新技術(shù)， park systems開發(fā)了pinpoint納米力學(xué)模式，它比技術(shù)至少快100倍。該技術(shù)可以在幾分鐘內(nèi)獲得一張彈性圖和同樣位置的形貌圖。該模式是一種可以獲取從硬盤到軟組織等各種材料的實時形貌像和定量力學(xué)性質(zhì)新型應(yīng)用技術(shù)。